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　　【仪表网 仪表标准】由中国材料与试验团体标准委员会电子材料领域委员会(CSTM/FC51)归口承担的《面向通信用关键材料的高频信号电磁辐射环境试验方法》(标准立项编号CSTM LX510000992——2022)团体标准征求意见稿已经完成。按照《中关村材料试验技术联盟团体标准管理办法》的有关规定，现公开广泛征求意见。
 

　　5G通信是新一代信息技术发展的主要方向，作为下一个万亿规模的战略性新兴产业，对我国成为全球移通信技术的领跑者起到不可估量的作用。5G之前的通讯技术，终端设备通讯频率较低，辐射效应对于材料的影响基本可以忽略，而5G场景中高频毫米波通信对材料持续辐射后引起的性能衰减成为了目前业内普遍关心的前沿性问题之一。
 

　　本标准以高频电磁场仿真建模方法作为理论指导，开发材料辐射试验测试装置系统，通过辐射强度闭环监测和辐射材料代替测试两种方法，形成材料高频电磁辐射测试方法。填补行业内对5G毫米波频段电磁辐射效应对材料影响测试方法的空白。
 

　　本文件参照 GB/T 1.1—2020 《标准化工作导则 第 1 部分：标准化文件的结构和起草规则》，GB/T 20001.4 —2015《标准编写规则 第 4 部分：试验方法标准》给出的规则起草。本文件规定了给通讯设备用关键材料施加高频信号电磁辐射环境试验的测试方法。本文件适用于可加工成片状的固体材料。适用频率范围：26.5GHz~40GHz。适用功率范围：20W~50W。
 

　　本标准包括以下内容，1.范围；2.规范性引用文件；3.术语和定义； 4.原理；5.试验条件； 6.仪器设备；7.样品； 8.试验步骤；9.附加信息；10.试验报告；附录A测试夹具与放置(资料性)；附录B辐射试验箱场强分布和计算(资料性)等。
 

　　原理：
 

　　高频信号电磁辐射试验系统包括：信号源，可用于产生频率为 26.5GHz 至 40GHz的正弦波或调制正弦波信号；功率放大器，可以提供最大输出功率为 50W 的正弦输出信号，同时提供一个入射和一个反射功率测量端口，测量端口的耦合度为约为 48dB；毫米波辐射试验箱，用于容纳大功率高频辐射电磁波，放置材料样品，吸收内部不必要的反射信号，屏蔽外部电磁辐射信号；信号注入和测量部分：包括三个 USB 功率计和一个监测电脑，用于监测喇叭天线输出的信号功率，放大器输入和输出信号；大功率信号注入和场强测量采用喇叭天线，天线的频率范围是 26.5GHz~40GHz，注入天线的接口为WR28 波导接口，可以耐受 50W 入射功率，场强测量天线的接口为 2.92mm 接口便于连接测试仪器。
 

　　仪器设备：
 

　　本试验所需适用于规定程序的仪器和材料如下：a) 信号源。信号源的频率范围应覆盖 26.5GHz 至 40GHz。b) 功率放大器。1) 功率放大器频率范围应覆盖 26.5GHz 至 40GHz。2) 功率放大器的输出功率应≥50W。c) 喇叭天线。1) 频率应覆盖 26.5GHz 至 40GHz。2) 极化方式：线极化。3) 天线增益不小于20dBd) 高频辐射屏蔽箱。1) 屏蔽箱的屏蔽辐射信号范围应覆盖26.5GHz至40GHz。2) 屏蔽箱三个轴向的最小尺寸不应小于30cm。3) 射频隔离度不小于60dB。e) 测试电脑。f) 功率传感器。
 

　　USB 功率传感器的频率范围应该覆盖 26.5GHz 至 40GHz。
 

　　试验步骤：
 

　　本方法测量程序如下：a) 首次测试前需要对系统所用的射频线缆等进行校准，并记录校准数据。b) 信号源开机预热，功率放大器开机预热，功率传感器开机预热半小时。c) 关闭屏蔽箱，设置信号源功率和频率，打开功率放大器，打开测试软件开启数据记录功能。d) 信号源输出按钮打开，记录此时的功率计度数，完成系统校准，判断系统工作是否正常。e) 系统正常后，关闭信号源开关，关闭功率放大器输出。f) 将样品固定在测试夹具上，然后将安装有被测样品的测试夹具放置在发射天线的正前方，且样品距离发射天线 20cm 至 30cm。g) 关闭辐射屏蔽箱，开启信号源和功率放大器开始试验。h) 软件实时记录功率传感器的发射天线注入功率，反射功率和接收天线的输出功率。i) 测试到达指定时间后测试完成，先关闭信号源，再关闭功率放大器，等待五分钟后，再打开辐射屏蔽箱取出测试样品。
 

　　维护：
 

　　a) 定期清洁测试天线、夹具、转接头等。b) 定期对射频电缆进行检查，若已损坏请及时更换射频电缆。c) 定期对高频屏蔽箱的屏蔽性能进行测试。d) 定期对信号源、功率放大器、功率计等设备进行校准。
 

　　试验报告：
 

　　试验报告应当包括下列内容：a) 测试环境(温度、湿度)；b) 测试频率；c) 测试功率；d) 测试时长及功率曲线；e) 试样预处理条件；f) 试验中的异常情况或与规定程序的差异和偏差；g) 校准相关测试数据信息；h) 测试距离；i) 试验样品信息。