资讯中心

《电子元器件 半导体器件的长期贮存 第3部分:数据》征求意见

2022/7/13 10:39:25    29441
来源:仪表网
摘要:近日,《电子元器件 半导体器件的长期贮存 第3部分:数据》编制完成并征求意见,时间截止至2022年9月10日。
  【仪表网 仪表标准】近日,《电子元器件 半导体器件的长期贮存 第3部分:数据》编制完成并征求意见,时间截止至2022年9月10日。文件起草单位为中国电子科技集团公司第十三研究所、工业和信息化部电子第五研究所、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司。
 
  近年来,电子元器件,尤其是集成电路的淘汰越来越严重。随着科技的发展,与用于航空、铁路或能源领域的工业设备相比,元器件的生命周期非常短。因此,对元器件进行系统地贮存是解决淘汰问题的主要方法。
 
  半导体器件长期贮存涉及可追溯数据、定期检查数据、元器件说明数据等数据,器件的价值在很大程度上取决于这些数据,如果没有这些数据,可能无法成功使用长期贮存的电子元器件,因此这些数据需要与电子元器件一起存储,以便使用器件时可用并保持可追溯性。
 
  该标准描述了数据存储的各个方面,包括需要存储的数据类型、数据格式、可选择的存储方式,以及避免在存储期间丢失数据的最佳存储方式,提出了一种最大程度上延缓淘汰的方法,但并不能保证贮存结束后的元器件处于完美的工作状态。
 
  该文件规定了数据存储的各方面要求,这些方面是成功使用长期贮存后的电子元器件所必需的,同时可保持可追溯性或数据链完整性。为避免存储期间丢失数据,本文件规定了需要与元器件或芯片一起存储的数据类型,以及最佳存储方式。长期贮存是指对于计划长期贮存的产品,持续贮存时间超过12个月,文件还讨论了促进电子元器件成功长期贮存的基本原理、良好的工作实践和一般方法。
 
  该标准主要技术内容包含长期贮存半导体器件相关的数据存储和数据要素等内容。数据存储包括通则、数据存储方式、纸质数据存储问题、电子数据存储问题、数据存储介质失效模式、媒介读取器和解码器、计算机、软件和数据格式等。数据要素包括通则、可追溯数据、定期检查数据、元器件说明数据等。本标准等同采用IEC 62435-3:2020,该标准的技术内容与IEC 62435-3:2020保持一致。
 
  该标准主要解决电子元器件长期贮存及后续使用过程中相关数据存储的问题,包括存储哪些数据、如何存储数据,以及如何保持数据安全等问题。对电子元器件长期贮存的数据进行存储,能够保证长期贮存电子元器件的成功使用,并保持可追溯性。
 
  据悉,该标准是电子元器件 半导体器件长期贮存系列标准之一,通过该系列标准的制定,可确定电子元器件长期贮存相关的数据存储和数据要素,有利于成功使用长期贮存的电子元器件并保持可追溯性或保管链完整性,对电子元器件的研究、生产、包装、检验和使用具有重要意义,同时补充完善电子元器件标准体系,为电子元器件行业的发展起到指导作用。
 

全部评论

上一篇:河北省《紫外分光光度法测油仪校准规范》发布

下一篇:《环境试验设备检验方法 第14部分》征求意见

相关新闻
热门视频
相关产品
写评论...