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JED-2300/2300F X射线能谱分析仪JED-2300/2300F
具体成交价以合同协议为准
2026-07-22上海
- 型号
- JED-2300/2300F
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产品简介
X射线能谱分析仪JED-2300/2300F,EDS通过检测被电子束激发出的样品的特征X射线,确定样品含有的元素及成分比,可以进行微区的点分析、线分析及面分析.
详细信息
EDS通过检测被电子束激发出的样品的特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。
例如：
- 分层起泡位置异物的判别；
- 图镀镍金表面元素分析
