X射线荧光测厚仪,B-射线无损测厚仪,板材厚度测量仪,基板铜厚测试仪,通孔铜厚测试仪,手提式通孔铜厚测试仪,日本KEET涂层测厚仪,库伦测厚仪,剥离强度测试仪,凝胶温度测试仪,挠性板疲痨测试仪,化学镀铜/镍药液自动添加设备,特性阻抗测试仪,可焊性测试仪,EXTEC金相设备及耗材等等
*代理美国 Thermo、日本 SEIKO 及韩国 Micro Pioneer的 X-射线测厚仪。此仪器主要应用于线路板的镀层或涂层厚度的测量,而且特别适用于对微细表面积或超薄镀层的测量。此外,针对PCB线路板生产的不同工序,我司亦有以下不同产品可供选择:1 韩国Micro Pioneer X-射线测厚仪1 美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪1 美国禾威(WALCHEM)电镀药液自动添加系统1 日本SEIKO(SII)X射线萤光测厚仪及元素分析仪1 日本KETT手提式涡流 / 磁感测试仪1 美国CECO PCB基材测试系统1 美国ECI电镀药液分析系统1 美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪1 美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国WTW实验室 / 工业用水质检查系统1 美国DeltaTRAK温度测试仪器多年来,我们一直致力于为半导体生产行业,PCB 厂商及一般电镀业等行业提供优质服务,让客户满意,为客户较大限度创造价值是我们始终坚持的目标,因为我们相信,客户的需要就是我们前进的动力。德国SCAN-DIA半自动研磨机德国SCAN-DIA微型低速切片机美国EXTECH金相切片机美国EXTECH研磨机美国EXTECH双盘研磨机美国EXTECH自动研磨机取样切割碟钻石磨光膏,粉,剂水晶胶凝胶杯沙纸&绒布样品夹微型*微型真空抽气泵金相切片测量套装金相测量软件美国UNITRON高级金相显微镜美国UNITRON直立式金相显微镜美国UNITRON倒立式金相显微镜德国 Roentgenanalytik X射线荧光测厚仪
产品简介
LT300数字式照度计测量光强度高达40,000英尺烛光或400,000Lux高分辨率0.01Fc/Lux产品特点:相对值模式指示光线水平改变峰值模式捕捉Z高读数12(305毫米)半圆形光电传感器连接卷绕电缆可扩展到24(609毫米)采用精密光电二极管和色彩校正滤镜余弦和色彩校正测量可测量的光线强度级别(照度)可以达到400,000Lux(40,000Fc)
详细信息
LT300数字式照度计
测量光强度高达40,000英尺烛光或400,000 Lux
高分辨率0.01 Fc/Lux
产品特点:
相对值模式指示光线水平改变
峰值模式捕捉Z高读数
12"(305毫米)半圆形光电传感器连接卷绕电缆可扩展到24"(609毫米)
采用精密光电二极管和色彩校正滤镜
余弦和色彩校正测量
可测量的光线强度级别(照度)可以达到 400,000 Lux (40,000 Fc) ,分辨率0.01Lux (Fc),基本精度±(5%读数值+0.5%满量程)
Max/Min(Z大值/Z小值)功能允许记录并显示随时间变化的Z大与Z小的亮度级别
数据保持功能定格所显示的读数值
大屏幕液晶显示,带条形刻度指示器
背光功能可以在昏暗的条件下读数
尺寸:5.9×2.95x1.57"(150×75 x 40毫米);重量:7盎司(200克)
配有9V电池,带保护罩的光线感应器,保护皮套,和软件包
规格参数:
量程与分辨率 | 精确度 |
Lux |
40.00,400.0,4000,40.00k,400.0kLux | ± (5% 读数值 + 0.5% 满量程) |
英尺烛光 (Fc) |
40.00,400.0,4000,40.00kFc | ± (5% 读数值 + 0.5% 满量程) |
订购信息:
LT300 ................Light Meter
LT300-NIST .......Light Meter with Calibration Traceable to NIST