TSD-150F-2P 冷热冲击试验箱，适应高强度实验室使用

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产品详情

本冷热冲击试验箱是一款专为高强度、高频率实验室环境设计的精密可靠性测试设备。它采用高可靠性的核心部件和坚固的箱体结构，能够模拟产品在极短时间内承受高低温切换的环境应力，从而快速发现产品在材料、工艺上的潜在缺陷，是提升产品可靠性、缩短研发周期的关键设备。

主要用途

广泛应用于电子元器件、汽车零部件、航空航天产品、新材料、LED、芯片、PCB板、通讯设备等领域，用于测试产品在温度剧烈变化环境下的耐受性能、热胀冷缩效应以及结构完整性。

冷热冲击试验箱，适应高强度实验室使用

技术参数

• 温度范围：高温箱：+60℃ ~ +150℃（可扩展）；低温箱：-10℃ ~ -55℃（可扩展至-65℃或更低）

• 温度转换时间：≤10秒（试样区域温度恢复时间，满足标准要求）

• 温度稳定性：±0.5℃

• 温度均匀度：±2.0℃

• 预热/预冷时间：高温箱从常温升至+150℃ ≤30分钟；低温箱从常温降至-55℃ ≤60分钟

• 内箱尺寸：可根据需求定制（标准如50L、100L等）

• 冲击方式：两箱式（提篮移动）或三箱式（风门切换），满足不同测试需求

箱体结构与材质

• 外箱材质：优质A3钢板，表面经防锈处理，并喷涂高强度汽车漆或静电喷塑，耐磨抗腐蚀。

• 内箱材质：采用SUS304#不锈钢镜面板，耐高温、耐腐蚀、易清洁，确保长期使用不生锈。

• 保温层：高密度聚氨酯硬质发泡+超细玻璃棉，保温性，有效减少热量损失，降低能耗。

• 密封：双层硅橡胶高低温密封条，确保箱体在高低温冲击下仍保持优异的气密性。

• 加强结构：箱体框架采用加强型钣金结构，关键受力部位进行加固，确保提篮频繁移动或长期运行时机身稳固不变形。

工作原理

设备分为高温箱、低温箱和测试区（提篮）。测试时，待测样品置于提篮中。根据预设程序，提篮在伺服电机驱动下，于高温区和低温区之间快速、平稳移动，使样品在瞬间（通常10秒内）暴露于截然不同的温度环境中，实现温度的剧烈冲击，从而考核产品的耐受极限。

满足标准

设备设计符合并满足以下主要国际、国家及行业标准：GB/T 2423.1、GB/T 2423.2、GJB 150.5、IEC 60068-2-1、IEC 60068-2-2、MIL-STD-202F、MIL-STD-810F等。

注意事项

1. 样品摆放：样品应合理摆放，确保测试区内空气流通，避免遮挡风道，影响温度均匀性。

2. 负载限制：严格遵守设备负载要求，不得超载运行，以免损坏提篮传动机构。

3. 定期维护：定期检查压缩机、冷凝器、运动部件，并清洁过滤器，确保设备处于状态。

4. 安全操作：高温或低温测试结束后，需等待箱内温度恢复至接近室温后再打开箱门，防止烫伤/冻伤或凝露。

5. 电源稳定：确保配备专用且稳定的电源线路，避免电压波动影响设备寿命。