原子力超分辨荧光显微镜（ HM-SR-AFM）

原子力超分辨荧光显微镜（ HM-SR-AFM）

原子力超分辨荧光显微镜（ HM-SR-AFM）

产品介绍：

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  原子力显微镜(AFM)是一种高空间分辨率的形貌成像技术，并能进行力学研究，但AFM难以提供分子种类信息。根据STORM和AFM各自的优缺点，提出一种新型的超分辨荧光和形貌显微镜(AFM-STORM)联用技术，同步实现超高分辨的荧光和形貌成像。

• 原子力显微镜(AFM)是一种高空间分辨率的形貌成像技术，并能进行力学研究，但AFM难以提供分子种类信息。根据STORM和AFM各自的优缺点，提出一种新型的超分辨荧光和形貌显微镜(AFM-STORM)联用技术，同步实现超高分辨的荧光和形貌成像。

  
  

  技术参数：

  
  

  联用系统成像范围	50 um x 50 um
  AFM显微镜分辨率	横向分辨率为：10 nm；垂直分辨率为：0.1 nm
  STORM成像分辨率	20 nm
  AFM显微镜采集速度	<60 s @ 128 point/line
  AFM可测样品深度	6 mm
  AFM扫描范围	≤100 μm x 100 μm x 10 μm
  AFM测量头尺寸	143 mm x 158 mm x 53 mm
  AFM测量头重量	1.25 kg
  联用样品台行程	12 mm x 12 mm

  
  

• 联用系统成像分辨率

  
  

原子力显微镜（AFM）工作原理及成像示意图