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参考价:

37800  -  ¥87800/台
TEE-600PF 高低温快速温变试验箱芯片质量控制

具体成交价以合同协议为准

2024-12-07东莞市
型号
TEE-600PF
参数
品牌:皓天 适用领域:科研 温度范围:-70~150℃ 温度波动度:±0.5℃ 温度均匀度:2.0% 额定电压:380V 重量:500kg 产地:国产 加工定制:否 温度偏差:±2.0℃ 温度恢复时间:≤5min 切换时间:≤10ses 噪音:≤65 外壳材料:防锈处理冷轧钢板喷涂 内箱:不锈钢 制冷机:泰康 内箱容积:600升 工作室尺寸:80×80×90cm 设定精度:温度 0.1℃、湿度 1% RH 线性降温速率:5℃/min
广东皓天检测仪器有限公司

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产品简介
高低温快速温变试验箱芯片质量控制
在芯片的生产过程中,快速温变试验箱可以作为一种重要的质量控制手段,对芯片进行筛选和检测,及时发现芯片在温度变化方面的潜在问题,如芯片的封装缺陷、材料的热稳定性等,从而提高芯片的良品率,降低生产成本.
详细信息

高低温快速温变试验箱芯片质量控制




芯片质量控制

 

在芯片的生产过程中,快速温变试验箱可以作为一种重要的质量控制手段,对芯片进行筛选和检测,及时发现芯片在温度变化方面的潜在问题,如芯片的封装缺陷、材料的热稳定性等,从而提高芯片的良品率,降低生产成本.

 

例如,在芯片封装完成后,将其放入快速温变试验箱中进行测试,如果芯片在测试过程中出现故障或性能下降,就可以及时对其进行分析和改进,避免不良品流入市场



高低温快速温变试验箱芯片质量控制

温度性能

温度范围:-60℃~150℃,宽广的温度范围能够模拟芯片在不同环境下的使用条件,满足芯片在多种应用场景中的可靠性测试需求.

升温速率:线性升温速率有 5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min 等可选,可根据不同芯片的测试标准和要求,选择合适的升温速率,以准确评估芯片在快速升温过程中的性能和可靠性 。

降温速率:线性降温速率同样有 5℃/min、10℃/min、15℃/min、20℃/min、25℃/min 等多种选择,可模拟芯片在实际使用中可能遇到的快速降温环境,检测芯片在低温环境下的稳定性和可靠性 。


高低温快速温变试验箱芯片质量控制


湿度性能

湿度范围:20%~98% RH,芯片在不同的湿度环境中,其性能可能会受到影响,该试验箱的湿度范围可满足对芯片在不同湿度条件下的可靠性测试,如高湿度环境下芯片的防潮性能、低湿度环境下芯片的静电释放等问题的检测.

控制精度

温度控制精度:达到 0.1℃,高精度的温度控制能够确保试验箱内温度的稳定性和准确性,为芯片可靠性测试提供精确的温度环境,减少因温度波动而导致的测试误差.

湿度控制精度:控制精度为 1% RH,精确的湿度控制可保证试验箱内湿度的稳定,有助于更准确地评估芯片在不同湿度条件下的性能变化.



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产品参数

品牌 皓天
适用领域 科研
温度范围 -70~150℃
温度波动度 ±0.5℃
温度均匀度 2.0%
额定电压 380V
重量 500kg
产地 国产
加工定制
温度偏差 ±2.0℃
温度恢复时间 ≤5min
切换时间 ≤10ses
噪音 ≤65
外壳材料 防锈处理冷轧钢板喷涂
内箱 不锈钢
制冷机 泰康
内箱容积 600升
工作室尺寸 80×80×90cm
设定精度 温度 0.1℃、湿度 1% RH
线性降温速率 5℃/min
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