X-50 赛普斯手持矿石元素分析仪

高品质的x光硬件进行可靠的工作

性能测试重金属如 Ni, Co, Cu, Ta, W, Mo等

快速、精确的结果

X-50利用经典的“久经考验”PiN二极管技术及x射线为过渡和重金属的基础分析。对于那些不需要测量Mg, Al, Si, 或P的公司，SciAps X-50是wanmei的选择。我们重新设计了这一经典的探测器技术，并为其配备了更多的功能:内置 高分辨率摄像机，用于查看样品，如焊缝; 用于照片记录或2D/3D条形码读取和 存储的宏观相机; 以及在熟悉的Android平台上使用蓝牙/Wi-Fi即时共享结果的quanqiu连接。

X-50包括xian jin的X光管技术与其他SciAps X系列型号(在40 kV max)进行检测,包括S、K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co 、Ni、Cu、Zn、As、Se、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ag、Cd 、Sn、Sb、Ba、Ta、W、Hg、Pb、Bi、Th、U.可以根据要求添加更多的元素。完整的样品结果展示不到一秒。