手持X射线荧光光谱仪是一种新的分析技术，在冶金、地质勘探、建材、环保等各个方面都有广泛应用，对比其他分析检测方法，X射线荧光光谱仪有什么优势特点呢：
(1) X射线荧光(XRF)分析方法分析速度高。测定用时与测定精密度有关，但一般只需2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
(2) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。
(3)X射线荧光(XRF)分析方法是非破坏分析。测定中不会引起化学状态的改变，也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量，结果重现性好。
(4)X射线荧光分析是一种物理分析方法，所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。
(5)X射线荧光(XRF)分析方法分析精密度高，常规的样品基本上可以通过X射线荧光(XRF)分析方法完成元素的分析。
任何一种分析仪方法都存在一定的缺点，而X射线荧光光谱仪对于轻元素的灵敏度要低一些，比如铝镁硅磷这些轻元素，需要用更先进的探测器和技术计算方法做测试。
因此，X射线荧光(XRF)分析方法还是比较方便，简单，便捷的元素分析方法，是能够帮助用户了解物质材料成分的一款有效的仪器。
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