概述

SE-VE 是一款、快速测量光谱椭偏仪，紧凑集成设计，使用简便，可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。

。光学椭偏测量解决方案
。紧凑集成化设计，用户操作体验
。一键快速测量分析，人机交互设计，使用便捷
。丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力

产品特点

采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm)；

高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；

数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料；

产品应用

广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。

建议配件