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椭偏仪

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2023-08-26广州市
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广州思博科技设备有限公司

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产品简介
椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器
详细信息

椭偏仪 是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空等,适用于超薄膜层测量。

适用于半导体、 介电材料、有机高分子聚合物 金属氧化物金属钝化膜、 自组装单分子层、多层膜物质和 石墨烯等材料。

广泛应用于半导体 微电子 MEMS、通讯、数据存储光学镀膜 平板显示器、太阳能光伏、科学研究、物理、化学、生物、医药等行业领域。

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