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M-2000DI光谱型椭偏仪(Spectroscopic Ellipsometer)

具体成交价以合同协议为准

2023-06-01
型号
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产品简介
仪器厂商:美国J.A.Woollam公司型号:M-2000DI到货日期:2008.4.19技术指标:●波长范围:190~1700nm●光谱分辨率:1.6nm(波长小于1000nm)
详细信息

仪器厂商:美国J.A.Woollam公司
型    号:M-2000DI     
到货日期:2008.4.19

技术指标:

● 波长范围:190~1700 nm
● 光谱分辨率:1.6 nm(波长小于1000 nm);3.7 nm(波长大于1000 nm)
● 自动入射角范围:45~900
● 自动样品台:150 mm*150 mm
● 旋转补偿器,Ψ可测范围0~900,Δ可测范围0~3600

主要用途:

用于单层或多层透明或半透明薄膜的厚度和光学常数的测定,广泛应用于物理、化学、材料、生物、高分子、光学镀膜、太阳能电池、平板显示等领域的研究。

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