• 可以立即测量优良量子效率（优良量子产率）
• 可以消除重新激发的荧光发射
• 采用集成半球单元可以实现明亮的光学系统。
• 低杂散光多通道光谱检测器可大大减少紫外线区域中的杂散光

• 专用软件易于操作
• 易于安装/拆卸样品测量单元
• 节省空间和紧凑的设计
• 可以通过使用分光镜型激发光源来选择任意波长。
• 通过在软件上激发波长的波长和步长值，可以进行自动测量。

• 与粉末，溶液，固体（薄膜）和薄膜样品兼容
• 丰富的分析功能

• 量子效率（量子产率）测量
• 激发波长依赖性测量
• 发射光谱测量
• PL激发光谱测量
• EEM（激发排放矩阵）测量

• 用于LED和有机EL的荧光粉的量子效率（量子产率）测量
• 膜状
  样品的透射荧光/反射荧光的量子效率（量子产率）测量-远程荧光粉的荧光样品等
• 量子点，荧光探针，生物场，笼形化合物等的荧光测量。
• 染料敏化太阳能电池的量子效率（量子产率）测量
• 复杂化合物的测量

QE-2000配备了一个积分半球。与积分球（全局）相比，积分球具有以下特征。

• 由于非发光部（保持器等）可以暴露于外部，因此可以保持自吸收较小，并且可以实现理想的光学系统。
• 反射镜可使同一点的照度增加一倍，并且可以高灵敏度进行测量。
• 样品测量池可以轻松安装和拆卸，几乎没有损坏积分球内部的风险。

在包括再次激发荧光发射的状态下，观察到的是设备的特性，而不是观察到材料本身的物理性质，并且无法获得真实的物理性质值。QE-2000可以通过利用积分半球的再激发荧光校正来执行简单而准确的测量。

使用传统的检测器（多色仪），可以在高水平检测紫外线区域中的杂散光，因此它不适用于测量量子效率（量子产率）。大冢电子通过开发消除杂散光的技术解决了这一问题。安装在QE-2000上的多通道光谱探测器的杂散光强度约为我们传统产品的1/5，即使在紫外线区域也可以进行高精度的测量。