免费会员 代理商
参考价：
-
- 面议
超快光谱干涉型测厚仪
具体成交价以合同协议为准
2023-04-29
- 型号
该企业相似产品
产品简介
简单介绍： 它以超高速，实时，高精度的晶片和树脂非接触方式测量晶片等的研磨和抛光过程。
详细信息
详情介绍：
特殊长度
- 可以进行非接触式，非破坏性的厚度测量
- 折反射系统（可以从一侧接触进行测量）
- 高速（*高速度5kHz）和实时评估成为可能
- 实现高稳定性（重复精度不超过0.01％）
- 抗粗糙性强
- 可以应付任何距离
- 支持多层结构（*多5层）
- 内置NG数据排除功能
- 可以进行距离（形状）测量（内置传感器随附的选件） *
*通过在测量范围内的光学距离测量
要点1：采用原创技术
实现高波长分辨率，同时支持广泛的膜厚度。
大冢电子的技术封装在紧凑的机身中。
要点2：高速支持
它
也是工厂生产线的理想选择，因为它可以**的间距测量运动的物体。
第三点：支持各种表面条件的样品
约有φ20μm的微小斑点，
可以在各种表面条件下测量样品的厚度。
Point4：与各种环境兼容
由于可以从*远200 mm的距离进行测量，因此
可以根据目的和应用构建测量环境。
测量项目
- 厚度测量（5层）
用
- 各种厚膜构件的厚度
- 产品信息
- 规格
- 基本配置
- 测量例
相关信息
相关产品
| | 光谱干涉晶圆测厚仪SF-3 |
| | 嵌入式膜厚监测仪 |
| | 显微光谱仪OPTM series |
| | 膜厚计FE-300 |
| | 光谱椭偏仪FE-5000 / 5000S |
| | マルチチャンネル分光器 MCPD-9800/6800 |
相关技术文章
