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参考测量仪RETS-100nx
具体成交价以合同协议为准
2023-04-19
- 型号
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产品简介
简单介绍： 它是一种相位差测量设备，可支持所有类型的膜，例如OLED偏振片，层压相位差膜和带IPS液晶相位差膜的偏振片。实现与超高Re.60000 nm兼容的高速，高精度测量。可以“非破坏性地不剥离”地测定膜的层叠状态。此外，它配备了简单的软件和校正功能，可支持由于样品重新定位而导致的未对准，从而实现了简单而高度**的测量。
详细信息
详情介绍：
特殊长度
高精度测量只能通过的光谱仪完成
■高精度
多高精度由波长测量实现
<确切原因>
的，专有的高性能的多通道光谱仪使用
它可以得到多的信息传输，可实现高**度的测量
（获得透射率信息是约500米的波长，约50倍的其他公司的产品）
■宽广的测量范围（保留范围：0至60000 nm）
■了解延迟波长色散形状
超高延迟测量-超双折射膜的高速高精度测量-
■高延迟
多层测量-各种膜的层压状态的无损和无损测量，不剥离-
车轴角度校正功能-即使样品安装未对准，也可轻松，轻松地进行测量-
■
更换样品10次，并比较有无角度校正的结果[样品：相差膜R85]
简单的软件-大大减少了测量时间和处理时间。大大提高了可操作性-
- 产品信息
- 规格
- 光学系统
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