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CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪

具体成交价以合同协议为准

2022-04-14
型号
大连远诚科技有限公司

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X射线荧光测厚仪
产品简介
技术指标参数技术指标分析元素范围Na-U元素含量范围1ppm-99
详细信息


技术指标

参数

技术指标

分析元素范围

Na-U

元素含量范围

1ppm-99.99%

采用美国航天技术半导体探测器

分辨率优于149eV

重复性

 

>65% >97%(N为净峰面积)

高压

5kV-50kV

管流

1uA-500uA

真空泵额定功率

550W

真空度可达

10-2Pa

高真空区域

10-1-10-5Pa

检测时间

10s-2550S(时间可调)

工作环境

温度0-40℃(建议在有空调的环境使用)

检测限

Cd/Cr/Hg/Pb/Br≤5ppm,C1≤20ppm

工作环境相对湿度

≤80%

仪器重量

约40Kg

仪器尺寸

600(W)×570(D)×570(H)mm


应用范围
RoHS、卤素检测;黄金等贵金属含量检测;合金、不绣钢等检测;冶金全元素分析。

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