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CIT-2000SM 便携式X荧光分析仪

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2022-04-14
型号
大连远诚科技有限公司

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X射线荧光测厚仪
产品简介
技术指标参数技术指标主要分析元素Ca、Fe、Ti、Mn、Cu、Pb、Zn、Mo、Ni等元素含量分析范围采用512道多道分析器
详细信息

技术指标

参数

技术指标

主要分析元素

CaFeTiMnCuPbZnMoNi

元素含量分析范围

采用512道多道分析器,分析精度更高

分辨率

优于15%

稳定性

< 0.1%

高压

1KV-1.5KV(激发源为Pu238低能光子源)

整机功率

小于5W

检测时间

120S

仪器操作

仪器可单独操作,也可配备PDA或台式电脑使用

仪器重量

4Kg

仪器尺寸

320LX170WX132Hmm

工作环境温度

0-50℃

检出限

0.01%

工作环境相对湿度

99%(不结露)

应用范围
适用于各有色、黑色矿山、选矿厂、质检站进行现场快速测量分析;适用于地质勘探、作岩矿露头现场测量、钻孔岩蕊直接测量、坑道井壁测量和室内粉末测量。

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