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CIT-2000SM X射线荧光分析仪

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2022-04-14
型号
大连远诚科技有限公司

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X射线荧光测厚仪
产品简介
技术指标参数技术指标分析元素Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Mo、Ni等元素含量分析范围2-20Ke分辨率13%样品用量10克样品粒度120目以上稳定性0.002检测时间2分钟分析误差﹤1.0%整机功耗150W工作环境温度温度0-40℃样品温度<70℃应用范围 适用于各有色、黑色矿山、选矿厂、质检站、水泥厂、陶瓷厂、玻璃厂等化验室
详细信息

技术指标

参数

技术指标

分析元素

Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Mo、Ni等

元素含量分析范围

2-20Ke

分辨率

13%

样品用量

10克

样品粒度

120目以上

稳定性

0.002

检测时间

2分钟

分析误差

﹤1.0%

整机功耗

150W

工作环境温度

温度0-40℃

样品温度

<70℃

应用范围
   适用于各有色、黑色矿山、选矿厂、质检站、水泥厂、陶瓷厂、玻璃厂等化验室;适用于分析多种物料、如铁矿石、铜矿石、铅锌矿、黑生料、石灰石等。
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