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F20 膜厚测量仪F20

具体成交价以合同协议为准

2026-07-09
型号
F20
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光谱分析仪
产品简介
产品介绍  F20系列是的台式薄膜厚度测量系统,只需按下一个按钮,不到一秒钟即可同时测量厚度和折射率
详细信息
产品介绍

  F20 系列是的台式薄膜厚度测量系统,只需按下一个按钮,不到一秒钟即可同时测量厚度和折射率。设置也非常简单, 只需把设备连接到您运行Windows™系统的计算机USB端口, 并连接样品平台就可以了。 F20系列不同型号的选择,主要取决于您需要测量的薄膜厚度(确定所需的波长范围)。

型号厚度范围*波长范围
F2015nm - 70µm380-1050nm
F20-EXR15nm - 250µm380-1700nm
F20-NIR100nm - 250µm950-1700nm
F20-UV1nm - 40µm190-1100nm
F20-UVX1nm - 250µm190-1700nm
F20-XT0.2µm - 450µm1440-1690nm

*取决于薄膜种类

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