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美国进口奥林巴斯合金分析仪XRF来料检测
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信息全面的牌号辨别:标准牌号库包括700多种*的合号。基于工业标准的残量“杂质”库,简化了牌号的匹配操作。
SmartSort可以实现非常高的检测量:在必要时自动延长检测轻元素的时间,还可以取消不必要的长时检测。
微点准直器:可选购的准直器有助于用户从背景材料中区别出材料的细小特征。
可选5百万像素全景摄像头:保存并归档被测表面的摄像记录。
焊缝牌号库可方便地验证焊缝材料的化学成份和焊缝的级别。
坚固耐用
符合IP 65/64评级标准,可以抵御灰尘和雨水的侵袭
通过了从4英尺高处坠落的测试(MIL-STD 810G),适合复杂场地和生产环境
可以在 -10 °C到50 °C的温度范围内操作
为装有硅漂移探测器的分析仪,提供了金属自动挡板保护昂贵的探测器
改进创新
采用*的Axon技术,更高的X 射线计数率,更快、更精确的检测结果,以及更低的检出限
接近于理论极限的分辨率
无需标样自动能量校准,分析仪自动进行能量校准,保证了*的测试稳定性
四核处理器可使用户在极短的时间内获得佳分析结果
高效多产
简单直观的用户界面(UI)可使用户快速浏览分析仪的设置和软件功能
根据用户的特定需求,配置用户界面
用户可以自行定制显示在主屏幕上的功能快捷键
通过USB闪存驱动盘、Wi-Fi或蓝牙完成的数据导出操作非常简单
M 系列
我们Z强大的Vanta 分析仪具有非同一般的性能,可以完成要求Z苛刻的应用。每台M 系列分析仪都配备有一个大区域SDD 硅漂移探测器, 用户可选择50KV 的铑(Rh)或钨(W)阳极靶材的X 射线管。
主要型号有:VMR、VMW。
C 系列
C 系列Vanta 分析仪汇集了以下优质特性:超高的速度、极低的检出限( LOD)和宽泛的可测元素范围,是一款价值的分析仪。每台C 系列分析仪都配备有一个高性能SDD 硅漂移探测器,用户可以选择40KV 的铑(Rh) 或钨(W) 阳极靶材的X 射线管,或者50KV 的银(Ag) 阳极靶材的X 射线管。
主要型号有:VCR、VCW、VCA。
L 系列
L 系列Vanta 分析仪拥有较高X 射线计数率,超低电子噪声设计,使得仪器具有优质的检出限(LOD),*的分析速度和准确性。每台L 系列分析仪都配备一个高性能Si-Pin 探测器,和4W 的大功率钨(W)阳极靶材的X 射线管。
主要型号有:VLW。
技术规格
外形尺寸 | 8.3 cm × 28.9 cm × 24.2 cm(宽× 高× 厚) |
激励源 | 根据不同应用,阳极靶可选择铑(Rh)、银(Ag)和钨(W)。M系列(Rh 和W)和C系列(Ag): 8~ 50 KV 、C系列(Rh和 W):8~40 KV、L系列(W): Z大 35KV |
滤光片 | 8个滤光片,自动切换滤光片 |
探测器 | M系列:大区域SDD 硅漂移探测器 C系列:SDD硅漂移探测器 L系列:Si-Pin探测器 |
电源 | 可拆装的14.4 V锂离子电池或18 V电源变压器, 100~240 VAC,50~60 Hz, Z大70 W |
显示 | 800 × 480 (WVGA) 液晶电容式触摸屏,可使用手指进行控制 |
环境 | 温度:-10℃~50℃(带可选风扇时,可连续工作) 湿度:相对湿度为10 %~90 %,无冷凝 |
坠落测试 | 通过了美军标准810-G的1.22 米高防坠落测试 |
IP 评级 | M系列符合IP 64 评级的要求:防尘,而且可防止来自各个方向的水溅 C系列符合IP 65 评级的要求:防尘,而且可防止来自各个方向的水喷 L系列符合IP 65 评级的要求:防尘,而且可防止来自各个方向的水喷 |
压力校正 | 内置气压计,用于海拔和空气密度的自动校正 |
GPS | 嵌入式GPS/GLONASS接收器 |
操作系统 | Linux |
数据存储 | 4GB 嵌入存储,带有microSD 卡插槽,可扩展存储容量 |
USB | 两个USB 2.0 A型主端口,用于诸如Wi-Fi、Bluetooth 和USB闪存驱动盘等配件 一个USB 2.0 袖珍B 型端口,用于连接计算机 |
WiFi | 通过可选购USB适配器,支持802.11 b/g/n(2.4 GHz) |
蓝牙 | 通过可选购USB适配器,支持蓝牙和蓝牙低能量功能 |
瞄准摄像头 | 全VGA CMOS摄像头 |
全景摄像头 | 500万像素CMOS 摄像头,带自动聚焦透镜 |