产品简介
AT-2012型涂层测厚仪（镀层测厚仪）测量范围：0～5000um，是*的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，其性能达到当代同类仪器的*水平。
详细介绍
AT-2012型涂层测厚仪（镀层测厚仪）测量范围：0～5000um，是*的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻；且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准，其性能达到当代同类仪器的*水平。
