光学 3D 表面轮廓仪采用先进的光学原理和精密的测量技术，能够对物体表面进行非接触式的三维测量。与传统的测量方法相比，它具有诸多优势。首先，非接触式测量避免了对被测物体的损伤，尤其对于一些精密的、易损的材料和工件，能够在不影响其性能的前提下进行准确测量。其次，高分辨率的测量能力可以捕捉到物体表面微小的细节，无论是纳米级的微观结构还是宏观物体的复杂形貌，都能清晰呈现。再者，快速的测量速度使得它能够在短时间内完成大量数据的采集，提高了工作效率。
SuperViewW 系列光学 3D 表面轮廓仪，涵盖了多种不同类型的产品，满足了不同客户的多样化需求。无论是追求高精度测量的科研机构，还是需要测量大尺寸工件的工业企业，都能在这个系列中找到适合自己的解决方案。
在高精度测量要求的应用场景中，高精度光学 3D 表面轮廓仪采用先进的白光干涉技术，能够精确地捕捉物体表面的微小细节，为科研人员和工程师们提供了可靠的数据支持。如在材料科学领域，通过高精度光学 3D 表面轮廓仪对新型纳米材料进行表面形貌研究，可以精准测量出纳米材料表面的高度信息、粗糙度等关键数据，为进一步优化材料性能提供了重要依据。其精度之高，可达到纳米级别。
在需要测量大尺寸工件时，SuperViewW 系列同样有相应的产品可供选择。这些大尺寸测量仪器具备广阔的测量范围和稳定的性能，能够轻松应对各种大型工件的测量任务。
WX-S1000，升级版超大行程光学3D表面轮廓仪（龙门结构，超大行程，气浮隔振，稳如泰山），2D表面测量/3D立体重建一键全自动测量，高精度微纳尺寸形貌检测利器。
除了高精度和大尺寸测量的产品外，SuperViewW 系列还包括了多种不同功能和规格的光学 3D 表面轮廓仪，以满足不同行业和应用场景的特殊需求。有的产品具备快速测量功能，能够在短时间内完成大量样品的测量任务，提高生产效率；有的产品则具有便携性，方便用户在现场进行测量，为户外作业和紧急情况提供了便利。
白光干涉测头具有体积小、重量轻、便携的特点，能够方便地搭载在各种具备XY水平位移架构的平台上，在产线上对器件表面进行自动化形式的测量，直接获取与表面质量相关的粗糙度、轮廓尺寸等2D/3D参数。
在科研领域，科学家们可以利用光学 3D 表面轮廓仪来分析各种新型材料的表面特性，如粗糙度、纹理、高度分布等，从而深入了解材料的性能和潜在应用；
在半导体行业，对芯片表面的高精度测量至关重要。光学 3D 表面轮廓仪能够精确测量芯片的微观结构，确保芯片的质量和性能符合严格的标准；
在机械制造领域，它可以用于检测零部件的表面质量，为加工工艺的优化提供依据；
例如，光学3D表面轮廓仪通过纳米传动与扫描技术、白光干涉与高精度3D重建技术实现0.1nm级表面粗糙度测量，在光通信行业中轻松实现针对光纤端面粗糙度的测量。
光纤端面测量场景及3D图像
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