如何稳定进行继电器与开关的寿命试验？-仪表网-手机版

当使用电子负载装置对继电器与开关进行寿命试验时，会发生过冲现象，导致实验无法顺利进行。是否有什么办法可以对应？

继电器与开关的电气寿命即使在负载容量（接触电压和接触电流）与周围温度等的条件相同的情况下，也会根据接触开关时的冲击电流的大小，发生很大的不同。通常使用电子负载装置进行继电器与开关的寿命试验时，是在电子负载处于CC模式并在LOAD ON的状态下，对插入在负载配线之间的DUT（继电器/开关）进行连续的ON/OFF操作。

但是，在LOAD ON的状态下进行开关的ON/OFF操作时，可能会发生负载电流急剧上升、过冲等现象，从而导致DUT的寿命大大缩短。另外，由于过冲的影响，电源侧的过电流保护电路也能可能会启动，从而导致试验中断。

那么怎么样才能避免此类问题发生呢？

解决方式

其实，只要使用电子负载装置中的软启动功能就可以解决这个问题了。

软启动功能是限制负载电流上升时间的功能。当负载电流在动作电压之下时，即使在LOAD ON状态下，也不会有电流流动。但是，当负载电流的在动作电压之上时，电流将会以所设定的速率进行流动。只需恰当的设定软启动功能，即使电压突然上升，电流也只是缓慢变大，不会产生过冲。另外，因为可以以相同的波形上升，所以可以实现再现性高的试验。