1.1 测定范围
表9-10 缺陷按指示长度分级表 mm
级别 | 板厚T | |
15-40 | >40~80 | |
Ⅰ | ≤10 | ≤1/4T |
Ⅱ | ≤15 | ≤1/3T |
Ⅲ | 指未长度大于Ⅱ级者 |
注:当对接焊缝两侧板厚不同时.以较薄者为准。
本章适用于采用数字直读式超声波测厚仪或A型脉冲反射式超声波探伤仪对压力容器板材、封头、筒体和接管厚度进行的超声测定。
1.2 几种主要材料的声速范阁
几种主要材料的声速范围,见表10-1。使用时,如有必要,应对材科进行实际声速测定。
表10 -1 几种主要材料的声速 m/s 在用双晶直探头测定时,将分割面的方向转动90°,在同一测定点测两次的测定方法。测定值以小的数值为准。
1.8.3 ф30mm多点测定法
当测定值不稳定时,以一个测定点为中,心在30mm的范围内进行多点测定。测定值以zui小值为HE。
1.8.4 管子壁厚的测定方法
单直探头测定时,应使探头中心线与管轴中心线相垂直,并通过管铀中心,使用双晶直探头测定时,探头分割线必须与管轴中心线垂直。
材料名称 | 铝 | 钢 | 不锈钢 | 铜 | 锆 | 钛 | 锌 | 铅 | 铸铁 |
纵波声速 | 6300 | 5900 | 5800 | 4700 | 4310 | 6240 | 4170 | 2170 | 3500~5600 |
1.3 仪器及探头
1.3.1 超声波测厚仪的精度应达到±(T%十0.1)mm,T为壁厚。
1.3.2 超声测厚通常采用直接接触式单晶直探头,也可采用带延迟块的单晶直探头和双晶直探头。
1.3.3 高温试件的壁厚测定需用特殊高温探头。
1.4 校正试块
1.4.1 试块的基本要求和尺寸见图10—1。
1.4.2 测定曲面工件厚度时,应使用同一曲率的试块,或者对平面试块加以修正。
1.5 耦合剂
应根据被测件的表面状况及声阻抗,选用无气泡、粘度适宜的耦台剂,如甘油、机油、硅胶、水玻璃和浆糊等。若工件表面粗糙,则应选择比较稠的耦台剂。
1.6 仪器校正
1.6.1 超声波测厚仪的校正
a. 采用台阶试块,分别在厚度接近待测厚度的zui大值和待测厚度的zui小值(或待测厚度zui大值的1/2)进行校正。
b.将探头置于较厚试块上,调整“声速校正”旋钮,使测厚仪显示读数接近已知值。
c.将探头置于较薄的试块上,调整“零位校正”旋纽,使测厚仪显示读数接近已知值。
d.反复调整,使量程的高低两端都得到正确读数,仪器即告调试完毕。
e.若已知材料声速,则可预先调好声速值,然后在仪器附带的试块上,调节“零位校正”旋钮,使仪器显示水为试块的厚度,仪器即调试完毕。
1.6.2 超声波探伤仪的校正
a.同1.6.1 a。
b.探头置于较厚试块上,调节仪器“扫描范围”旋钮.直到底面回波出现在相应刻度位置上。
c.探头置于较薄试块上,调节仪器“延迟扫描”旋钮,直到底面回波出现在相应刻度位置上。
d.反复调整,直到在厚,薄试块上的底面回波均出现在正确的刻度位置,仪器即告调整完毕。
1.7 测定准备
测定面上存在的浮锈、鳞皮或部分脱离的涂膜应进行清洗,必要时可用砂轮进行适当的修磨。
1.8 测定方法
在测定点只进行一次测定的方法,一般适用于单晶直探头的场合。
1.8.2 二次测定法
1.9 测定值异常时的处理
在采用超声调厚仪测定时.有时会出现异常值,必须进行适当的处理。
1.9.1 没有显示值
若工件曲率半径太小或背面有大量点腐蚀时,测厚仪会没有显示值,这时应采用超声波探伤仪进行辅助测定。
1.9.2 显示值为实际厚度的两倍左右
工件壁厚小于3mm,且背面比较光滑.为避免测厚仪的显示值有时为实际厚度的两倍,这时应采用小测距探头或探头。
1.9.3 显示值比实际厚度小
当存在夹杂、夹层等内部缺陷时,测厚仪显示值常小于公称厚度的70%,这时应采用超声探伤仪对测定点周围进行检测,确认是否是受缺陷的影响,探头可采用直探头或斜探头。
1.10 报告
报告至少应包括以下内容:
a.工件名称、材质、编号、委托单位;
b.仪器型号、探头、试块、耦合剂、测定方法;
G.测量部位和数据、测量部位草图、测量数据的zui大值和zui小值,
d.操作人员、校核人员;
e.测定日期。
备注:时代集团主要生产里氏硬度计、洛氏硬度计、橡胶硬度计、布氏硬度计、粗糙度仪、超声波探伤仪、超声波测厚仪、涂层测厚仪、测振仪、*等检测仪器,