Thick800A应用优势：
1. 针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
2. 软件可分析最高5层25种元素镀层;
3. 通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求;
4. 配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的精准分析;
5. 内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态;
6. 高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
7. 通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求;
8. 配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的精准分析;
8. 内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态;
9. 高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
