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　　X射线镀层测厚仪原理是根据X荧光穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测镀层所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为信号，经过放大器放大，再由镀层测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度值。
　　
　　X射线源强度的大小，与X射线管的发射强度和被测钢板所吸收的X射线强度相关。一个在系统强度范围内的给定厚度，为了确定其所需的X射线能量值，可利用X射线标准片进行校准。在检测任何产品镀层时，系统将设定X射线的标准程序，使检测能够顺利完成。
　　
　　韩国MicroPioneer(先锋)X射线镀层测厚仪
　　
　　XRF-2000镀层测厚仪共分三种型号
　　
　　不同型号各种功能一样
　　
　　机箱容纳样品大小有以下不同要求
　　
　　XRF-2000镀层测厚仪型号介绍
　　
　　XRF-2000镀层测厚仪H型:测量样品高度不超过10cm
　　
　　XRF-2000电镀测厚仪L型:测量样品高度不超过3cm
　　
　　XRF-2000电镀膜厚仪PCB型:测量样品高度不超3cm(开放式设计,可检测大型样品
　　
　　韩国先锋XRF2000镀层测厚仪(*)
　　
　　检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度
　　
　　主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等
　　
　　韩国XRF2000镀层测厚仪
　　
　　全自动台面
　　
　　自动雷射对焦
　　
　　多点自动测量(方便操作人员准确快捷检测样品）
　　
　　测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
　　
　　镀层厚度测试范围：0.03－35um
　　
　　可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
　　
　　(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
　　
　　(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀镍等)
　　
　　多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
　　
　　合金镀层:如铁上镀锡铜等
　　
　　测量时间：10－30秒
　　
　　精度控制：
　　
　　*层：±5%以内
　　
　　第二层：±8%以内
　　
　　第三层：±12%以内
　　
　　XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能*,而且价钱*
　　
　　同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果