XRF2000镀层测厚仪
快速检测各种材质上镀层厚度,可测单层,双层,多层,合金镀层厚度
如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
如铜上镀镍镀金,铜上镀镍,铜上镀银,铁上镀锌,铜上镀镍镀铬等
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒内便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦, 操作非常方便简单
XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能*,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度等。
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm
电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
详细资料请电-
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