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薄膜厚度测量的方法介绍

来源: 济南中科电子科技有限公司

2024/3/26 10:32:41 292


薄膜等包装材料厚度是否均匀一致,是检测薄膜各项性能的基础。薄膜厚度不均匀,不但会影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等,更会影响薄膜的后续加工。厚度的测量方法有多种,总体上分为非接触式与接触式,非接触式包括射线,涡流,超声波,红外等多种类型,接触式行业中也称为机械式测厚,分为点接触式与面接触式。

非接触式测厚的方法在测量涂层或非塑料行业使用,在塑料薄膜行业试验室测厚以及仲裁薄膜厚度的测试方法为压力式面接触测量法,且试验室测厚也均用此方法进行测试,因为薄膜类材料在微观上是起伏不平的,非接触测量(点接触式)在此情况下无法评定其厚度,只有在一定的压力下按规定的测试面积进行测出的数据才具有统一性。

济南中科电子科技有限公司作为长期致力于研发和生产各类包装检测的试验仪器生产厂家,研发生产的TCK-02测厚仪是专业用于材料高精度厚度测试的试验室仪器,是执行《GB/T6672-2001 塑料薄膜和薄片厚度测定机械测量法》等相关标准规定的面接触机械式测量的形式进行检测的仪器。设备采用进口优质传感器,其精度是0.1u(1mm=1000u)在机械式测量当中这是当前国际上的最1高精度。TCK-02测厚仪采用微电脑控制,将每一次的数据进行存储,并可直接在仪器上进行查询与统计。另外仪器顶部还预留了用于测试压力调整口,使压力调整容易实施。且仪器可连接计算机,可以利用专业的软件进行统计分析,并可以根据客户的需求选择按数据表统计或柱状图进行统计两种方式,同时还可以试验的数据转换成网页格式,实际在网络或局域网内进行数据的传输造型美观大方,符合人机工程原理,是一款能够广泛应用于对厚度需要精确测量的各种场合的实用设备。    

 

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TCK-02测厚仪 

 

 

 


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