产品介绍：
由于振动或空气湍流干扰,进行大量光学器件测试或复杂的光学系统的准确度干涉测量是很困难的。使用所谓的"实时"相位测量干涉仪经常是碰运气或不成功的。4D Technology的PhaseCam系列是进行大量光学器件测试或复杂的光学系统的准确度干涉测量的完善的解决方法。PhaseCam NIR系统可进行准确的表面和波前测量，结构紧凑，重量轻，近红外波长（1.053，1.064和1.3微米1:55）。进行干涉测量的器件可分别安装在较远并且无防震功能的光学平台, PhaseCam也可以容易得到高质量的测量,这归功于PhaseCam的快速测量能力使它很容易降低空气湍流产生的影响,更大量降低了测试周期,提高生产率。让您不须再因为环境的影响而牺牲了准确度。
参数：
波长：1.053到1.064微米
配置：光纤耦合头和源模块
测量头尺寸：小
传感器：1000 x 1000 px
控制：电动
应用：长距离，远程安装，NIR波长的大型焦点光学器件
4D Technology的PhaseCam NIR和IR激光干涉仪可提供1.053到10.6微米波长的球形和平面IR光学器件和系统的准确表面和波前测量。这些仪器的采集时间不到30微秒，对振动和空气湍流不敏感，可以在困难的环境中使用，例如生产车间，洁净室和环境测试室。
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