一般把被测表面和*之间在测量上所必须的空间距离叫做光路。在轧制生产中用在线测温仪测量轧件的表面温度，必须注意到轧制生产的恶劣环境给辐射式红外测温带来的各种影响。例如，为了冷却设备或轧件，常常在轧件表面上停留有水膜、油膜，而且其大小、厚度和位置公不断变化，在光路中存在着浓度经常变化的水蒸气。另外，在现场空气中悬浮着很多尘埃以及二氧化碳等吸收介质。有时在轧件表面上还出现鳞片状锈斑和污垢等附着物。在某些特殊场合(如炉内)，在光路中还可能有火焰，火焰不仅吸收辐射能，而且还向外界射出大量能量，这将给测量带来很大误差，甚至测量难以进行。水膜、水蒸气、二氧化碳和二氧化硫等介质对辐射能的吸收是有选择性的，而尘埃对辐射能的吸收是没有选择性的，但常常伴随着散射。*在原理上属于光学测量装置，在测量中常常受到光学方面的外界干扰。这些干扰可分为被测表面上的干扰和光路中的干扰。
外界干扰影响*的测量
在被测表面上的干扰主要包括辐射率和外来光。根据斯蒂芬·玻耳兹曼定律，物体的全辐射能为E=eoT4。对于黑体，因为黑度e=1，用*测出了辐射能可直接知道温度。但是对于一般物体辐射能，不仅与温度有关，而且还与表面黑度有关。黑度又与很多因素，如与物质的种类、温度、波长和表面状态等有关。只有在测量之前，已知物体表面的黑度或采取黑度温度同时测量的方法，才能正确地测出物体表面的真实温度。
外来光是指从其他光源入射到被测表面上并且被反射出来，混入到测量光中的成分。在室外测温时的太阳光，在室内测量时，从天窗射入的太阳光、照明、附近的加热炉等都是外来光的光源。测量炉内被加热的物体温度时，炉壁就是外来光的光源。外来光的光源温度越高、非透明体表面光泽越强或黑度越低，对温度的影响越强。
如要定性地判断测量系统是否被外来光干扰，可将被测面围起来，遮蔽外来光，此时要特别注意温度计的指示是否变化。如果指示值不发生变化，那就意味着外来光对测量系统没有影响。如有影响，则应改变测量方向或设置遮光装置。
上述在被测表面上和光路中的各种干扰，必然对辐射式*带来影响，产生测量误差。故在实际测温时，安分析各种不同干扰对测量精度的影响，以获得难确的测温数据。
外界干扰影响*的测量
在选择*时，首先要明确使用目的。例如，用于实验研究用的*表，在选用时主要着眼十它的性能和测量精度。而作为生产上使用时，如温度监视、温度控制等，在选用时应注意在性能上能满足一般要求的基础上，主要着眼于仪表的长期稳定性和维护运行是否方便。压力加工生产过程中，由于产品的种类(板材、型材、管材等)不同，其测温条件也不同；要根据具体的测温条件，来分析并排除各种干扰，选择合适的*表进行测温。
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