放射性污染测量仪 核辐射污染检测仪 型号：mu-I
性
mu-I放射性表面污染测量仪采用半导体探测器，于低水平α、β辐射表面污染检测和环境X、γ辐射监测。具有良好的探测效率、较高的可靠性和方便的操作特性。精巧的设计使同一探头能同时区分测量α、β粒子，并可即时用于环境X、γ辐射剂量水平测量。该仪器采用单片机控制，可连续进行测量数据的记录存储，并由计算机通讯获取。该设备可用于环境放射性监测、核医学、核电站、核燃料、运输、储存和商检等诸多领域。仪器控制功能还有：本底测量定时选择、污染测量定时选择、报警阈值设置、数据通讯选择、声音控制、背光控制、模拟条码显示、电池欠压指示等。
▉主要技术指标
探测器●半导体探测器
探头灵敏窗面积●Ia型3.14cm2和Ib型19.6cm2可选;
探头端口边缘至灵敏窗zui小距离●4.5mm;
探头窗铝膜质量厚度●＜1.1mg/ cm2;
仪器效率●ηα≥24%（239Pu，距窗表面4.5mm ）；ηβ≥30%
仪器本底●Ia型：α＜0.5cpm; β≤20 cpm；
●Ib型: α＜3cpm; β≤100 cpm；
计数量程●α、β计数率0.1～99999cpm；
X、γ辐射测量范围●0.01μSv/h～100mSv/h,相对误差：≤±15%；
报警设置●α：1～200cpm，β：20～2000cpm，步长1，连续可调；
电 源●内置可充电锂电池，一次充电可持续工作时间≥7天；
工作环境特性●温度-20℃～50℃，相对湿度RH≤90%（@30℃）；
尺寸/重 量<●主机：190×93×48;探头：Φ33×150；总重：730g。
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