CT加速寿命试验机理论依据：电子元器件的失效原因与器件本身所选用的材料、材料之间、器件表面或体内、金属化系统以及封装结构中存在的各种化 学、物理的反应有关。器件从出厂经过贮存、运输、使用到失效的寿命周期，*不在进行着缓慢的化学物理变化。在各种外界环境下，器件还会承受了各种 热、电、机械应力，会使原来的化学物理反应加速，而其中温度应力对失效zui为敏感。实践证明，当温度升高以后，器件劣化的物理化学反应加快，失效过程加速， 而Arrhenius模型就总结了由温度应力决定的化学反应速度依赖关系的规律性，为PCT试验机提供了理论依据。
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