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Thorlabs 剪切干涉仪 25.4-50 mm光束直径
提供5种型号,光束直径范围从1到50 mm
定性地确定光的准直性
磁铁球将板固定在底座上
适用的光束直径刻在板上
根据所用剪切板的不同,剪切干涉仪可用于直径小到1 mm、大到50 mm的入射光。剪切干涉仪产生的干涉条纹对光束发散很敏感,因此可以用来定性地确定光是否准直。如右图所示,剪切板有三个钢球,以磁性吸附的方式固定在板的底部。当采用不同直径的光束时,这种磁性固位机制易于更换不同的平板。
楔形光学平板通过三个磁块夹持住。
Thorlabs 剪切干涉仪 25.4-50 mm光束直径
此外,底板的背面钻有通孔,因此可以使得透射光通过楔形光学平板继续毫 wu 阻 ai 地传播。除了SI500,所有型号的通孔均为SM1螺纹(1.035"-40)。SI500的通孔为Ø2.95英寸(Ø75 mm)滑孔。底板、散射屏和剪切板包装在一个手提箱内。
请注意由于SI100、SI254和SI500剪切板的厚度原因,剪切板的后表面会超出安装板(如右图所示)。因此,当插入或者移除这些板的时候要格外小心,尤其是安装了SICP或者SICPSM1笼式转接板的情况下。
规格
Item # | Wedge Angle | Diameter | Diameter Tolerance | Thickness | Thickness Tolerance | Approximate ΔOPLa |
---|---|---|---|---|---|---|
SI035P | 117 arcsec | 7.94 mm | +0/-0.25 mm | 0.75 mm | ±0.25 mm | 1.9 mm |
SI050P | 83 arcsec | 12.7 mm | +0/-0.25 mm | 1.30 mm | ±0.25 mm | 3.3 mm |
SI100P | 40 arcsec | 15.60 mm | +0/-0.25 mm | 2.60 mmb | ±0.25 mm | 6.6 mm |
SI254P | 18 arcsec | 38.00 mm | +0/-0.25 mm | 6.35 mmb | ±0.25 mm | 16.2 mm |
SI500P | 10 arcsec | 78.00 mm | +0/-0.25 mm | 13.00 mmb | ±0.25 mm | 33.1 mm |
a. 为了确保能产生干涉,请检查所用的光源的有xiao相干长度大于光程长(ΔOPL)的近似变化。当使用光源的相干长度达到ΔOPL的几倍,干涉条纹的对比度会下降。一旦相干长度接近ΔOPL,就是在对非相干光有效成像。假设平行反射表面被厚度分开,针对UVFS(n=1.457@632.8 nm)计算的ΔOPL列在上表中。
b. 由于光学元件的厚度,剪切仪的背面会超出安装板。因此,在插入或移除这些板的时候,尤其是安装了SICP和SICPSM1这些笼式转接件时,要格外小心。
Item # | Included Platea | Beam Diameter for Included Plateb | Compatible Plates | Compatible Accessories | Threaded Mounting Holes | Dimensions (L x W x H) |
---|---|---|---|---|---|---|
SI035 | SI035P | 1 - 3 mm | SI035P, SI050P, SI100P, and SI254P | SIVS, SITST, SICP, SICPSM1 | 8-32 and M4 | 50.8 mm x 48.3 mm x 55.9 mm |
SI050 | SI050P | 2.5 - 5 mm | ||||
SI100 | SI100P | 5 - 10 mm | ||||
SI254 | SI254P | 10 - 25.4 mm | SIVSc, SICP, SICPSM1 | |||
SI500 | SI500P | 25.4 - 50 mm | SI500P | None Available | 1/4"-20 and M6 | 116.8 mm x 133.4 mm x 134.6 mm |
a. 楔形板用UVFS制成
b. 带有不同楔形角的不同板可以提供不同大小的光束。这是优化特定光束直径的板之间距离,从而产生干涉条纹。
c. SIVS是设计用来观察由小直径光束产生的条纹。虽然它与SI254兼容,但没bi要和SI254一起使用,因为SI254就是用来观察大直径光束。
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