Serial Block-face SEM 3View

Serial Block-face SEM 3View

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2022-04-21 16:33:34
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北京培科创新技术有限公司

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产品简介

肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针,与3View2XP(Gatan公司制造)结合使用,能对样品进行自动切割,自动获取图像

详细介绍

技术参数

  JSM-7100F JSM-7800F
分辨率 1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV) 0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV)
加速电压 0.5~30kV 0.01~30kV
放大倍率 x 10~1,000,000 x 25~1,000,000

 

 3View®2XP
切割厚度 15~200nm (生物类样品 25~50nm)
切割速度 0.1~1.2mm / 秒
刀片的切割距离 1.2mm
样品台驱动范围 X/Y: ±700μm Z: 600μm
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