Spiral TOF*的离子光学系统，使MALDI-TOF MS拥有的技术，在宽分子量范围内提供*质量分辨率
JMS-S3000基质辅助激光解析电离飞行时间质谱仪，采用日本电子独自研发的的SpiralTOF模式离子光学系统，其超高的质量分辨率和超高的质量准确度，遥遥*于传统的装置。本装置质谱分析新技术，特别是在合成高分子、材料化学、生物高分子领域满足了日新月异的科技发展和研究需求。

激光辅助解析-飞行时间质谱仪的SpiralTOF技术
JMS-S3000采用的SpiralTOF模式离子光学系统，远优于线性模式和反射模式的离子光学系统。它采用大阪大学开发的 “Perfect focusing（*聚焦）”和“Multi-turn（多向转动）”技术，每隔一定距离(螺旋轨道的 1 层)能将离子包汇聚，因此即使延长飞行时间，离子包在检测面上也不会扩散，从而同时实现了*的质量准确度和*的离子透射率。
SpiralTOF的光学系统

激光辅助解析-飞行时间质谱仪EOL的技术，使螺旋状的离子轨道在有限的空間内达到了17m长。圆筒电场中配置了4组层状环形电极（Toroidal electrode），每组环形电极由9 张松田板(Matsuda plates)组成，以此形成螺旋轨道。离子在离子源中被20kV的电压加速后，依次通过4组环形电极的各层，终到达检测器。

崭新的离子光学系统，挑战传统概念的极限
克服离子延时引出法的技术屏障

JMS-S3000秉承MALDI-TOFMS传统优良技术，通过延长飞行距离，成功地提高了质量分辨率和质量准确度。
MALDI-TOFMS的离子光学系统*组合了离子延时引出法的离子光学系统 (至汇焦位置的距离L1：红线) 和具有动能汇聚性的离子光学系统 (距离 L2：蓝线)。离子延时引出法显著地提高了MALDI-TOFMS的质量分辨率，但同时也留下了只在局部达到了高质量分辨率的难题。这一问题可以通过增大L2 / L1之比(即蓝线的比例) 来解决。JMS-S3000的L2比传统反射模式TOFMS要长出10倍左右，因此能够对样品进行高质量分辨率及根据内标法进行高质量准确度的分析。

在宽质量范围内达到高分辨率
JMS-S3000通过延长飞行距离，在宽质量范围内能够实现高质量分辨率、根据内标法得到*的质量准确度，因而超越了传统的MALDI-TOF的限界。

使用内标法，ACTH 碎片1-17(m/z 2093)的质量准确度达到了0.16ppm。
降低样品制备的影响
基质结晶后表面的凸凹不平引起激光照射时的初期位置不同，因而产生飞行时间差。使用传统的离子光学系统时，飞行时间差会引起质量分辨率及外标法质量准确度的降低。JMS-S3000通过延长飞行距离，将这一影响降低到小限度，不仅质量分辨率稳定，同时也提高了外标法的质量准确度。

通过外标法获得高质量准确度
JMS-S3000通过外标法，能够进行高质量准确度的分析。将标准肽混合物和相当于25fmol的牛血清白蛋白的*消化液分别滴在标准靶板的校准标样点位上和样品点位上。自动取得谱图之后，进行谱峰拾取 (包括同位素分离)，利用Matrix Science公司的 MASCOT PMF方式进行数据库检索。下表为各点位上的匹配肽的质量误差平均値。

JEOL*的靶板
JEOL*的靶板，上有384个MTP（微量滴定）样品点位，每4个样品点位中间有1个校准标样点位。另外，每个靶板配有各自独立的ID，靶板装入装置后会被自动识别。ID和数据一起被保存起来。

利用SpiralTOF进行合成高分子的分析
嵌段共聚物分析实例

在测试的整个区域，反复确认单位，解析分子量分布
输出质谱图，用Polymerix™进行解析