N8130超高采样率超级电容测试卡
时间:2017-12-07 阅读:256
-
提供商
恩智(上海)测控技术有限公司 -
资料大小
1315962 -
资料图片
-
下载次数
0次 -
资料类型
pdf -
浏览次数
256次
时间:2017-12-07 阅读:256
提供商
恩智(上海)测控技术有限公司资料大小
1315962资料图片
下载次数
0次资料类型
pdf浏览次数
256次N8130超高采样率超级电容测试卡为NGI公司针对超级电容、电池研发和生产而自主设计开发的新一代测试仪器。采样速度高达1mS,充转放过程无缝切换,N8130*超级电容、电池充电容量、放电容量、充电等效串联内阻、放电等效串联内阻、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。N8130支持六步法,IEC62391,QC/T 741等全部主流测试标准,用户可根据需要灵活选。N8130上位机软件支持平台化测试应用,用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件,测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCEL、JPG文件。
功能和特点:
■ 高达1mS超高采样率,*真实还原测试过程数据
■ 充转放过程无缝切换,无过充过放
■ 功能丰富的上位软件,支持生产分选功能
■ 每通道对应状态指示灯,分选更方便
■ 强大的数据存储与分析功能
■ 百兆以太网通讯
■ 12VDC供电
■ 可插入N8000测控主机使用,也可独立使用
■ NXI槽位数:2