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N8130超高采样率超级电容测试卡

时间:2017-12-07      阅读:256

N8130超高采样率超级电容测试卡为NGI公司针对超级电容、电池研发和生产而自主设计开发的新一代测试仪器。采样速度高达1mS,充转放过程无缝切换,N8130*超级电容、电池充电容量、放电容量、充电等效串联内阻、放电等效串联内阻、能量转换效率、循环寿命等电气参数进行高精度测试测量。N8130支持六步法,IEC62391,QC/T 741等全部主流测试标准,用户可根据需要灵活选。N8130上位机软件支持平台化测试应用,用户可根据测试工艺和测试流程自行定制测试文件,测试结果可方便存储和导出。导出格式可支持数据库、EXCEL、JPG文件。

 

功能和特点:

  •     ■  恒流充电、恒流放电、压充电、恒压放电、循环寿命、充电容量,放电容量、DCIR等参数测试

        ■  高达1mS超高采样率,*真实还原测试过程数据

        ■  充转放过程无缝切换,无过充过放

        ■  功能丰富的上位软件,支持生产分选功能

        ■  每通道对应状态指示灯,分选更方便

        ■  强大的数据存储与分析功能

        ■  百兆以太网通讯

        ■  12VDC供电

        ■  可插入N8000测控主机使用,也可独立使用

        ■  NXI槽位数:2

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