WeiMi01BG白光干涉测量模组,白光干涉仪，广泛应用于消费电子类、半导体封装、超精密加工(机械、光学)、微纳材料等各大领域精密零部件之重点部位的表面粗糙度、微小形貌轮廓及尺寸等检测，如智能电子产品的玻璃外壳、超光滑薄片(如home键里的薄片、手机摄像头里面的薄片)等产品检测。高品质激光检测仪,实现纳米级精度测量！

■ 白光干涉和多角度共路照明相结合，照明和成像光线方向一致。创新算法和高度匀速位移台的匹配，实现连续3D成像。

■ 使用进口130万像素相机和GPU优化算法，实现大数据量实时运算。

■ 选配高精度压电陶瓷，可在高度方向实现纳米级精度测量。

■ 高度集成化模组，便于多种场景的视觉系统集成。

■ 产品可用于高度、表面角度、平面度、厚度、体积、颜色相近表面区分等场景的测量。