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热继电器测试仪的设计方案

时间:2010-06-14      阅读:1119

随着电力系统的迅速发展,要求热继电器测试仪日趋完善和可靠。热继电器测试仪的开发和应用,大大提高了继电保护装置的测试水平,对保证继电保护的正确动作,提高电网的安全水平有积极的现实意义。为了满足市场需求和提高产品的竞争力,提出了一种基于DSP+FPGA的继电保护测试仪。

一、系统的硬件结构

热继电器测试仪由微处理器、系统存储器、USB通讯接口和信号发生器等单元构成,如图1所示。

二、主控制电路硬件设计

热继电器测试仪的主控制电路硬件设计主要介绍存储器和USB通讯模块的功能。

1、主控制电路图

主控制电路采用AM29I V800DB和K4S561632E作为存储器,FT245BM 作为上下位机USB通讯芯片,电路图如图2所示。

2、热继电器测试仪的芯片介绍

  1)BF531

16位定点DSP Blackfin531可以实现400 MHz的连续工作,主要特点有:灵活的软件控制动态电源管理;4 GB统一寻址空间;I 1指令存储器包括32 kB应用灵活的SRAM 和R0M;L1数据存储器包括16 kB的Bank,可配置为SRAM 和Cache;支持片外同、异步存储器并具有2个双通道全双工同步串行接口和一个支持IrDA的通行串行口,12个通道的DMA,16个GPIO;3个定时/计数器;支持PWM 等;提供与SDRAM 的无缝连接。

  2)FLASH

AM29LV800B除了存储基波数据,还需要存储用户......

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