TomoScope HV compact

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2024-02-24 11:13:54
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产品简介

沃思(Werth)是一家专门从事测量机制造商,已有60多年的历史。 利用这种专业知识,他们在世界上制造了X射线CT设备,可用于尺寸测量。 它是世界上由DAkkS认证的为尺寸保证的X射线CT系统。

详细介绍

TomoScope HV compact


[的图像处理技术]

为了从通过X射线透射获得的2D X射线图像创建3D体数据,需要出色的图像处理技术。 通过利用Werth在CMM中使用相机传感器所积累的图像处理经验和知识,TomoScope可以以较少的噪声和模糊数据进行分析,因此可以进行高精度的测量。

[TomoScope的成就]

它已广泛应用于以汽车零件和医疗零件为中心的领域。 特别是,在需要小尺寸和高性能的产品的开发和批量生产方面,我们取得了许多成就。

[TomoScope系列]

TomoScope系列大致分为四个模型。 TomoScope-HV紧凑型是第二大型号,*大输出为300kV。

高分辨率--选项1

[分割扫描(*后一次断层扫描)]
通常,在使用X射线CT系统进行扫描时,必须将样品放置在X射线的锥束中,因此,样品越大,放大率越低。 但是,如果使用TomoScope的栅格层析成像,则可以如右图所示进行扫描,因此即使是较大的样品也可以在高放大倍率下进行测量。 另外,由于连接并输出了自动分割的数据,因此可以照常执行后续分析。

高分辨率--选项2

[本地CT(ROICT)
光栅层析成像可以高分辨率地测量整个样本,而ROICT是仅在必要部分局部提高分辨率的功能。 如右图所示,次是在低倍率下扫描整个样品,第二次是在高倍率下局部扫描。 然后,您可以获得部分高分辨率的测量结果,就像两个数据被覆盖一样。


应用案例分析

[无损尺寸测量]
从获取的几百万个点的数据中,您只能提取所需横截面上的数据,并执行与普通坐标测量机相同的尺寸测量。 TomoScope涵盖了诸如圆度和球形度的几何公差。 可以进行无损,高精度的测量,并且可以保证尺寸测量的准确性。
[STL数据和CAD数据之间的偏差]
可以通过拟合由TomoScope和CAD获取的STL(多边形)数据来分析偏差。 在下图中,测量了STL与CAD的偏差,红色是产品肿胀的地方,紫色是刮擦的地方。 偏差也可以作为数值数据输出。
[复合产品的横截面分析]
尽管用X射线测量复合产品可能很困难,但TomoScope可以通过积累各种技术来测量噪声的影响而几乎没有影响。 下图显示了微型电动机的测量数据。 它是一种复合材料,例如铜合金,铁,磁体等,但可以轻松进行测量。
[复合产品的体积分析]
使用TomoScope,还可以从复合材料产品的测量到仅所需材料的多边形数据(STL)来测量复合材料产品的体积。

技术参数

X射线管的类型
190kV(透射),225kV(透射和反射),300kV(透射和反射)
测量范围
*大Φ= 179mm,*大L = 179mm
示例:
Φ30mmx L177mm
Φ179mmx L165mm
测量范围(带分割扫描)
*大Φ= 327mm,*大L = 517mm
范例:
Φ60毫米x L501毫米
Φ327毫米x L480毫米
载物台容量
40kg(*大10kg,保证精度)
*大允许误差
E: (4.5+L/75) μm
位置分辨率
0.1μm
检测器
1024x1024像素,2048x2048像素,4096x4096像素等
装置尺寸
宽度:2570毫米
深度:1823毫米
高度:1976毫米
重量:约8500千克
效用
电源3相200V,空气5.5bar以上3000NL / h
环境温度
设定20°C±2K,梯度1K / h



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