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XTSD—三维光学静态变形测量系统
XTSD—三维光学静态变形测量系统以数字近景工业摄影测量为基础,通过拍摄变形前后物体的多幅图像,获得物体在各个状态的三维数据。将多个状态相互之间通过点或相关点进行拼合,对各状态的变形点的变形量和变形方向通过三维色谱图的方式直观的显示出来,获得元素在空间位置中的变形量。 |
XTSD—三维光学静态变形测量系统应用范围
系统特色
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| 功能特色
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系统参数
型号 | XTSD |
相机分辨率 | 2400万/1200万 |
测量范围 | 0.3-10m |
测量精度 | ±0.025/m |
精度验证 | 根据 VDI 2634/1 |
编码标志点 | 支持12位(200个)、15位(400个)编码标志点 |
标定技术 | 自标定技术 |
工作温度 | -40 到 120°C
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