X荧光硅铝分析仪是采用X射线激发样品，检测所生产的二次特征X射
线，即可以获得硅铝定性和定量分析结果。产品广泛应用于冶金、采矿、建材等工业中。
用于水泥厂中，主要测量生料、熟料中的SiO2、Al2O3的百分含量。

X荧光硅铝分析仪

主要特点

1、微机化集成为一体，结构紧凑，外形美观。

2、大屏幕液晶显示，全中文菜单提示操作，使用极为方便。

3、分析时间短，1分钟即能测出SiO2%、Al2O3%。

4、仪器检测时不破坏样品，样品可重复使用。

5、不用任何化学试剂、无三废排放，不含放射源、低耗电　　

6、数据存储量大，含量结果、仪器自检数据都可查询，避免了打印耗材。

技术指标

1、分析范围: SiO2、Al2O30.01%～  

2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%

3、分析宽度: SiO2(Al2O3)max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通过标定工作曲线选定。

技术指标

1、分析范围: SiO2、Al2O30.01%～  

2、分析精度：标准偏差SSiO2≤0.10%、SAl2O3≤0.08%

3、分析宽度: SiO2(Al2O3)max—SiO2(Al2O3)min≤15%,例如生料中SiO2:10%～25%，通过标定工作曲线选定。