除了细粉料物位外，该领域仍是超声物位测量有优势的领域，虽然雷达物位计也推出了测量固态物位的产品，但是在常用量程（15m以下）的应用中，超声物位计在性能和价格上都有优势。超声波反射是基于声阻抗率的差别。空气和固态物料的声阻抗率相差极大，故超声波在块状及颗粒状固态物料上几乎是全反射，而雷达的反射是基于介电常数的差别，对于介电常数低的被测物料，信号反射就会减少。此外，由于固态物料料面都有一定安息角，测量固态料面基本上利用波在粗糙表面的漫反射，形成漫反射的条件是表面粗糙度（近似于颗粒直径）大于或等于1/6λ（λ为波长），量程15m的超声物位计大都采用40kHz频率，声波波长为8.5mm，所以对2mm以上颗粒直径的物料都可以形成良好的漫反射。而雷达物位计采用X波段时频率为5.85或6GHz，波长约为52mm，对于粒径较小的颗粒状物位，漫反射效果差。用K波段（24或26GHz）会改善很多，但价格较高。故该领域目前仍以选择超声波方法为多。