奥林巴斯日本45MG测厚仪全国*

45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款*特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。

45MG仪器在使用基本配置时，是一款易懂易学、操作简便的测厚仪，操作人员经过zui基本的培训，就可完成zui常用的测厚应用。不过，45MG仪器添加了可选软件选项和探头后，就会变成一款极为高级的测厚仪，可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外，大多数选项可以在购买仪器时分别购买，或在日后需要时购买。

45MG超声波测厚仪测量详细介绍：    
双晶探头测量模式    从激励脉冲后的精确延迟到*个回波之间的时间间隔。
自动回波到回波（可选）    在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。
穿透涂层测量 （可选）    利用单个底面回波，测量金属的实际厚度和涂层厚度（使用D7906-SM和D7906探头）
单晶探头测量模式（可选）    模式1：激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。 
模式2：延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔（使用延迟块或水浸式探头） 
模式3：在激励脉冲之后，位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟块探头或水浸式探头）。
厚度范围    0.080 mm～635 mm（0.003 in.～25.0 in.）视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定（要测量zui全的范围需要使用单晶选项）
材料声速范围    0.508 mm/μs～18.699 mm/μs（0.020 in./μs～0.7362 in./μs）
分辨率（可选择）    低分辨率：0.1毫米（0.01英寸） 
标准分辨率：0.01毫米（0.001英寸） 
单晶选项：0.001毫米（0.0001英寸）
探头频率范围    标准：2.25 MHz～30 MHz（-3 dB）高穿透（单晶选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）

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