德国EPK MINITEST720涂层测厚仪|MINITEST720|MINITEST 720|MINITEST720涂层测厚仪|德国EPK MINITEST720
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MINITEST 720/730/740涂层测厚仪
SIDSP技术-新技术,智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去,数字信号处理将成为未来的趋势
是SIDSP?
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号处理为数字形式。SIDSP探头依据生产。
SIDSP工作原理?
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。
技术数据表
SIDSP探头
探头 特性 | F1.5,N0.7,FN1.5 | F2 | F5,N2.5,FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范围 | 小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头,使用广泛 | 厚涂层 | ||
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
信号处理 | 探头内部32位信号处理(SIDSP) | |||||
度 | ±(1μm+0.75%读值) | ±(1.5μm+0.75%读值) | ±(5μm+0.75%读值) | |||
重复性 | ±(0.5μm+0.5%读值) | ±(0.8μm+0.5%读值) | ±(2.5μm+0.5%读值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
小曲率半径(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
小曲率半径(凹,外置探头) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
小曲率半径(凹,内置探头) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
单值模式下大测量速度 | 每分钟70个读数 |
主机
型号 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | 多10,000个 | 多10,000个 | 多100,000个 |
统计值 | 读值个数,小值,大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置) | ||
校准程序符合国际标准和规范 | ISO,SSPC,瑞典标准,澳大利亚标准 | ||
校准模式 | 出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值 | ||
极限值监控 | 声、光报警提示过极限 | ||
测量单位 | um,mm,cm;mils,inch,thou | ||
操作温度 | -10℃-60℃ | ||
存放温度 | -20℃-70℃ | ||
数据接口 | IrDA 1.0(红外接口) | ||
电源 | 2节AA电池 | ||
标准 | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 | ||
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 约175g | 约210g | 约175g(内置)/230g(外置) |