MK-8525C-触摸屏头戴耳机前后错位寿命试验机-东莞市迈科仪器设备有限公司手机版

详细介绍

触摸屏头戴耳机前后错位寿命试验机

型号：MK-8525C

设备简介：
触摸屏头戴耳机前后错位寿命试验机用于头戴耳机扭曲寿命试验，评估头戴耳机耐扭强度。触摸屏头戴耳机前后错位寿命试验机是将耳机两端分别放置于左右治具上，在一定次数、速度、相反扭动行程反复扭曲测试。

技术参数：
1、测试工位：三组（联动测试）
2、扩张行程：50-200mm（可调）
3、扭曲行程：5-100mm（触摸屏可设且显示）
4、试验次数：0-次（触摸屏可设且断电记忆）
5、测试速度：5-50次/分（触摸屏可设且显示）
6、控制系统：触摸屏+PLC
7、驱动系统：步进电机＋同步轮带＋线性导轨
8、测试模式：左右耳罩同时相反扭曲测试
9、左右耳罩固定板：倾斜角度可调
10、中间固定装置：高度可调
11、设备尺寸（W×H×D）：约800×500×600mm
12、设备重量：约60Kg
13、工作电源：AC220V、50Hz

设备特点：
1、箱体采用静电烤漆处理，治具以及台面等均采用纯铝氧化处理，美观大方，整机运行安全、稳定，符合测试要求；
2、采用步进电机驱动同步轮带，配合线性导轨，设备运行平稳、低噪声，耐久性强；
3、扭曲行程、速度、次数等参数均可触摸屏直接设置且显示，操作简单、方便、快捷；
4、可同时测试多组产品，测试效率高。

产品简介

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