高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLH-200J

WBLH-200J高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号：WBLH-200J

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2017-06-28 11:15:09
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北京中慧天诚科技有限公司

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产品简介

本仪器采用了涡流测厚方法，可损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。

详细介绍

高频涡流式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 
型号：WBLH-200J		货号：ZH6917

产品简介
   本仪器采用了涡流测厚方法，可损的测量非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、相交、油漆、塑料等）。内置打印机，可打印数据，有四个统计功能。
测定方法:高频涡流式 
测定对象:非磁性金属上缘层 
测定范围:电磁式：0～800um或0～32.0mils
测定精度:<50um±1um  >50um±2%
分辨率:<100um 0.1um  >100um 1um 
界限设定:可设定上/下限数值 
测试单位:公/英制互换 
显示方式:LCD数显 
操作面板:密封防水按键 
附属品:铁基体/铝基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 
电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个 
体积:80(W)×80(D)×30(H) 
重量:1100g

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