该设备是根据PTC研究项目的需要而开发的用计算机控制PTC材料R-T曲线性能的仪器。
高阻测定仪是在高温和线性升温条件下测试材料的高阻性能的仪器。
主要参数：
可对Ф40mm以上或10×10×10mm3PTC样品进行R-T特性试验仪器电阻测量范围：0.01Ω-1015Ω±3%
温度控制范围：室温-300℃   
分辨率：0.1℃
控温方式：恒温±0.5℃
匀速升温速率：0.5-5℃/分
匀速升温精度：±1℃
计算机自动PTD调节，曲线CRT显示，数据存储、打印。