品牌
经销商厂商性质
所在地
E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。
E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检测机构报告;精密度、准确度、检出限等技术参数全面超过国内外同类仪器,特别针对大件异形不平整样品,无需拆分,直接测试即可达到精确的测试效果。● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。
● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。
● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线
● 辐射标志警示
● 仪器经第三方检测,X射线剂量率*符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》
硬件技术
● X射线下照式,激光对焦可调样品仓,对于异形不平整样品,无需拆分打磨,可直接测试
● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率
● 最小光斑0.2mm,可针对各种样品中的小测试点精确定位,避免材质干扰,测量结果更准确
● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;*设计
● 电路系统符合EMC、FCC测试标准
软件技术
● 分析元素:Na~U之间元素
● 分析时间:90秒
● 界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作
● 数据一键备份,一键还原、一键清理功能,保护用户数据安全
● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度
● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。探测器
● 类型:X123探测器(高性能电致冷半导体探测器)
● Be窗厚度:1mil
● 晶体面积:25mm2
● 分辨率:145eV
●信号处理系统:DP5
X射线管
●电压:0-50v
●电流;2mA
●功率:50W
●靶材:Mo
●Be窗厚度:0.2mm
●使用寿命:大于2w小时
高压电源
●输出电压:0-50Kv
●灯丝电流0-2mA
●功率:50w
●纹波系数:0.1%(p-p值)
●8小时稳定性:0.05%
摄像头
●焦距:微焦距
●驱动:免驱动
●像素:500万像素
准直器、滤光片
●系统:快拆卸准直器、滤光片系统
●材质:多种材质准直器
●光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选
十字激光头
●光斑形状:十字线
●输出波长:红光650nm
●光学透镜:玻璃透镜
●尺寸:Φ10×30mm
●发散角度:0.1-2mrad
●工作电压:DC 5V
●输出功率:<5mW
●工作温度:-10~50℃
其它配件
●开关电源:进口高性能开关电源
●散热风扇:进口低噪声、大风量风扇
●外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)
●样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)
●仪器重量:50kg
●供电电源:AC220V/ 50Hz
●功率:330W
●工作温度:15-30℃
●相对湿度:≤85%,不结露