Mahr 度量*的技术实现一步完成轮廓和粗糙度测量。MarSurf LD 130 和 LD 260 测量站经过系统化的设计以利用代设备的经验。
- 一步完成粗糙度和轮廓测量
- 高测量和定位速度可大幅减少测量时间
- 删除创新的测头系统
- 快速可靠的测杆更换，磁性支架同步检测测杆
- 长测量长度，高达 260 mm (MarSurf LD 260)，测量行程 13 mm（100 mm 测杆长度）或 26 mm（200 mm 测杆长度）
- 模块结构，方便维护
- 维护时无需*拆卸测量立柱
测量速度（文本） | 0.02 mm/s 至 10 mm/s；
粗糙度测量
推荐 0.1 mm/s 至 0.5 mm/s |
|---|
扫描长度末尾（X 方向） | 130 mm |
|---|
分辨率 | 0.8 nm |
|---|
扫描长度开始（X 方向） | 0.1 mm |
|---|
定位速度（文本） | 0.02 mm/s 至 200 mm/s |
|---|
测量范围 mm | 13 mm (100 mm probe arm)
26 mm (200 mm probe arm) |
|---|
扫描长度（文本） | 0.1 mm - 130 mm 或 260 mm |
|---|
测量力 (N) | 0.5 mN 至 30 mN，可软件调整 |
|---|
可选：
- ST 750 测量立柱
- 平行虎钳
- V 形块，设备工作台
- 测量柜
- 广泛的测杆范围
软件选项：- 轮廓处理选项
- MarWin 主波纹度选项 (WDc)
- ISO 13565-3 表面参数选项
- 用户定义参数选项（还需要应用工程团队的参数或工作）
- 拓扑选项（仅 MarWin MarSurf XT）
- MarSurf XT 选项带 MfM / MfM plus
- 螺纹评定选项
- 用于 MarSurf LD 120 / MarWin 的双探针选项
- 斜面评估选项（符合 Bosch 标准）
- QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
- 数字 I/O 设置选项
- MarSurf XCR 20 包含 MidRange LDMarSurf XCR 20 软件、Mahr 许可密钥
- TFT 显示器
- MCP 21 手动控制面板
- MarSurf LD 130 或 LD 260 驱动装置包含 LP D 14-10-2/60 LP D 14-10-500 测头系统和测杆
- 轮廓 1 校准标准，精确度 1 级
- MarSurf ST 500 CNC 测量立柱，700 mm x 550 mm HG 花岗石板，包括控制模块
- 阻尼元件组
- CT 300 XY 工作台
