日立台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980 多元素分析仪

日立台式XRF镀层测厚仪 X-Strata980 多元素分析仪

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2024-01-18 09:22:15
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中山利丰精密测量仪器有限公司

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产品简介

出色的精确性和长期的稳定性:●日立分析仪器生产的100瓦X射线管大大提高了灵敏度实现快速精确的分析;●高分辨半导体探测器完成简单快速的元素识别;●通过多个初级滤波器对全元素范围实现的分析效果;●日立分析仪器公司*的低背景测量板,实现更低的检出下限

详细介绍

出色的精确性和长期的稳定性:

●日立分析仪器生产的100瓦X射线管大大提高了灵敏度实现快速精确的分析;

●高分辨半导体探测器完成简单快速的元素识别;

●通过多个初级滤波器对全元素范围实现的分析效果;

●日立分析仪器公司*的低背景测量板,实现更低的检出下限。详细资料请咨询客服!利用X射线荧光(XRF)进行镀层厚度测量和材料分析,提高过程和质量控制。X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备,提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。
 
X-Strata980 – 灵活、多元素、无损的材料分析
一款全面强大的X射线荧光分析仪,能够检测各种大小的样品
快速、精确分析固体、液体和粉末
程控台的大样品舱方便样品摆放和测量(可选)
集成电脑节省了台式仪器的空间
应用广泛,包括光电池、RoHS有害元素筛选和贵金属分析
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